test structure中文是什么意思

• 测试结构

• "test"中文翻译    n. 【动物；动物学】(软体类的)介壳，甲壳；【植物；植 ...
• "structure"中文翻译    n. 1.构造，结构；组织；石理，石纹。 2.建造物。 ...
• "structure test" 中文翻译 :    构造钻; 结构试验
• "full scale structure test" 中文翻译 :    足尺结构试验
• "intelligence structure test" 中文翻译 :    智力结构测验
• "structure test model (stm)" 中文翻译 :    结构测试原型
• "plated through hole structure test" 中文翻译 :    镀覆孔的结构检验
• "structure" 中文翻译 :    n. 1.构造，结构；组织；石理，石纹。 2.建造物。 3.【化学】化学结构。 4.【心理学】(直接经验中显现的)结构性，整体性；整体结构。 military structures 工事。 adj. -d ,-less adj.
• "a test for" 中文翻译 :    检测目的
• "a test on" 中文翻译 :    对……进行测试
• "a test with" 中文翻译 :    检测手段
• "a-test" 中文翻译 :    原子试验
• "but for test" 中文翻译 :    要是没有
• "in-test" 中文翻译 :    试验期中
• "no test" 中文翻译 :    来电无密押; 未测试; 无密押
• "not test" 中文翻译 :    未试验
• "on test" 中文翻译 :    试验开始
• "on-test" 中文翻译 :    试验开始的
• "s test" 中文翻译 :    菲令氏试验; 麦夸里试验; 慢剪试验; 齐恩测验
• "t test" 中文翻译 :    t测验; t检验; 测试; 检验
• "t-test" 中文翻译 :    t检验; t形检验; 条件比
• "t-test t" 中文翻译 :    检定; 检验
• "test" 中文翻译 :    n. 1.检验，检查；考查；测验；考试；考验。 2.检验用品；试金石；【化学】试药；(判断的)标准。 3.【化学】化验；(用试剂检查出来的)检查结果；【冶金】(分析用)灰皿，烤钵，提银盘。 4.〔口语〕＝testmatch. 5.【英史】宣誓。 an acceptance test 验收。 an achievement test 成绩测验。 a blood test 血液检查。 a live test 【火箭】载人试验。 a performance test 性能试验。 a service test 运行试验，使用试验。 a strength test 强度试验。 a test in physics 物理测验(考试)。 a test object (显微镜的)检验物。 the supreme test 最高标准。 the test of practice 实践的检验。 put to the test 试验，检验。 stand [bear, pass] the test 试验合格。 take the test 就职宣誓。 vt. 1.考查，测验，试验，检验，考验。 2.【化学】(用试药)检验，化验。 3.【冶金】精炼(金银)。 A game like that tested our strength. 像那样的一场球赛考验了我们的力量。 I'll have my blood tested. 我要检查一下血。 test ore for gold 检验矿砂的含金成分。 vi. 1.受试验，受测验。 2.测得结果。 3.(为鉴定而)进行测验 (for)。 Let's use another method to test for its pulling force. 让我们用另外一种方法来测验它的拉力。 adj. -able 1. 可试验的。 2. 【法律】有资格作证[立遗嘱]的，可根据遗嘱处理的。 adj. -ed 经过考验的。 n. 【动物；动物学】(软体类的)介壳，甲壳；【植物；植物学】(外)种皮。
• "test for" 中文翻译 :    对...进行测验
• "test no" 中文翻译 :    检验证书编号

• Description of the reliability test structures of the european mini test chip
  欧洲微型试验芯片可靠性试验结构的描述
• Design and simulation of on - line test structure for thermal conductivity of polysilicon thin films
  在线检测多晶硅薄膜热导率测试结构的设计与模拟
• Jx5 microprocessor ’ s testing structure comprises built - in self - test ( bist ) , boundary scan and internal scan
  Jx5微处理器的测试结构由bist 、边界扫描和内部扫描三部分组成。
• Finally the author constructs the full testing structure of jx5 microprocessor and implements it independently
  作者还独立地具体实现了这一测试方案,构造了完整的jx5的调测试结构。
• When a series of different levels of sine excitation force is imposedon a non - linear testing structure , the response data vary with the force
  非线性系统在不同力幅的正弦激励时，其频率响应函数将随力幅而变化。
• Standard guide for design of flat , straight - line test structures for detecting metallization open - circuit or resistance - increase failure due to electromigration metric
  检测由电迁移造成的喷镀金属开路或阻力增加失效率用的平板直线试验结构设计的标准指南
• Through all these work , a practical method for designing test structure , setting up automatic measurement system , collecting test data , and dealing with statistical data was given
  对于导电胶可靠性的评估，从试验样品设计、自动测量系统和测量方法直到可靠性试验数据的处理和统计分析，提供了一套切实可行的方法。
• We have demonstrated that the integrated circuit test structures fabricated at standard commercial foundries can be radiation tolerant at total does greater than 100krad ( si ) . the radiation environment of outer space is capable of effecting cmos devices in three ways
  外太空辐射环境主要以三种方式影响cmos器件：总剂量辐射效应( tid ) ，单粒子翻转效应( seu )和单粒子闩锁效应( sel ) 。
• Abstract : metal aluminium film em failure mechanism has been studied under pulsed stress , and the metal aluminium em reliability under pure ac stress has been discussed , a detailed spec - ification has been made about relative factor affecting test structures
  摘要：对脉冲应力作用下金属铝膜的电迁移失效机理进行了研究，研究了纯交流应力对金属铝膜电迁移可靠性的影响，对影响测试结构的相关因素作了详细的描述。
• In this study , the design procedures for mitigating radiation effects mechanisms have been implemented in a gate array design , we have obtained samples of integrated circuits test structures manufactured by wuxi csmc - hj using their 0 . 6 - m cmos process
  在研究中，我们将降低辐射效应的设计方法应用到门阵列设计中，获得了华晶上华半导体有限公司采用0 . 6 m的cmos工艺生产的集成电路样片，具有100krad ( si )的抗总剂量辐射能力。

• test structure перевод